TiO_2膜成長に与えるSi表面プラズマクリーニング効果
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概要
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電気・化学的特性に優れたルチルリッチTiO_2膜は,Heガスを導入してO_2をイオン化することにより低温Si基板上に成長させ得ることが判明したが,この場合基板は成膜前Arでスパッタエッチングしてクリーニングしている.本研究はAr以外のエッチングガス,H_2ガス及びCF_4を含む混合ガスで処理しても同等のルチルリッチなTiO_2膜が得られるかを検討した.その結果,H_2のみでは主にアナターゼTiO_2膜が成長し,Ar+H_2+CF_4の混合ガスでは最適処理時間のもとでルチルTiO_2膜が得られることがわかった.これは正極性のSiH及び負極性のSiFとO_2正イオンの相互作用で起きると考えられる.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1999-09-25
著者
-
柴田 明
福井工業高等専門学校
-
北 一麻呂
福井工業高等専門学校電気工学科
-
沖村 邦雄
東海大学工学部電子工学科
-
沖村 邦雄
東海大学電子工学科
-
沖村 邦雄
Tokai Univ. Kanagawa Jpn
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