陽電子寿命測定法によるポリシラン膜の内部構造

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概要

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• 陽電子寿命測定法は空体積型の欠陥に関する情報を抽出してくれる強力な実験方法である。今回はこの方法を用いて、さまざまな条件でポリシラン内部の自由空間体積を測定した。ポリシラン膜の配向処理と温度変化による内部構造変化、そしてポリシラン粉末のペレット成形時の圧力による内部構造変化を調べ、それぞれにおいて極めて興味深い結果が得られた。

• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 1998-05-06

著者

• 堀 史説

  大阪府立大

• 堀 史説

  阪府大先端研

• 堂丸 隆祥

  大阪府立大学付属研究所

• 中村 知己

  大阪府立大学先端科学研究所

• 内藤 裕義

  大阪府立大学大学院工学研究科

• 岡 邦雄

  大阪府立大学先端科学研究所

• 大嶋 隆一郎

  大阪ニュークリアサイエンス協会

• 大嶋 隆一郎

  大阪府立大学先端科学研究所

• 大嶋 隆一郎

  大阪大学基礎工学部

• 葛西 正

  大阪府立大学 先端科学研究所

• 内藤 裕義

  大阪府立大学 先端科学研究所

• 堂丸 隆祥

  大阪府立大学工学研究科

• 岡 邦雄

  大阪府立大学工学研究科応用化学科

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