陽電子消滅寿命法によるポリシランフィルム中の自由体積
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概要
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陽電子寿命測定法は空体積型の欠陥に関する情報を抽出してくれる強力な実験方法である。今回はこの方法を用いて、さまざまな条件でポリシラン内部の自由空間体積を測定した。ポリシラン膜の配向処理と分子量変化そして温度変化による内部構造変化のそれぞれにおいて極めて興味深い結果が得られた。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1999-02-05
著者
-
堀 史説
大阪府立大
-
堀 史説
阪府大先端研
-
堂丸 隆祥
大阪府立大学付属研究所
-
岡 邦雄
大阪府立大学先端科学研究所
-
大嶋 隆一郎
大阪ニュークリアサイエンス協会
-
大嶋 隆一郎
大阪府立大学先端科学研究所
-
大嶋 隆一郎
大阪大学基礎工学部
-
葛西 正
大阪府立大学 先端科学研究所
-
堂丸 隆祥
大阪府立大学工学研究科
-
岡 邦雄
大阪府立大学工学研究科応用化学科
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