高信頼PLAスプリッタモジュール
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概要
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平面導波路型1×8光分岐モジュールの信頼性をベルコア規格に基づいて検討した.モジュールはSi基板上に作製されたY分岐からなり,入出力用に光ファイバがUV接着剤で接続されている.信頼性を向上させるため,モジュール全体を金属ケースに入れ内部には耐水性の高分子を充填した.モジュールの光学特性(初期特性)として,挿入損失,反射減衰量,温度安定性を評価し,良好な結果を得た.信頼性試験では,長期の耐環境及び機械試験合計11種をそれぞれ10個以上のPLCスプリッタに実施した.耐環境試験のうちでは,最も厳しいとされる75℃90%RHの条件において試験にかけた19個すべての試料が5000時間以上安定であった.また,それ以外の試験でもPLCスプリッタは良好な特性を示した.この信頼性試験の結果により,PLCスプリッタの実用化が促進されるものと考えられる.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-08-19
著者
-
高戸 範夫
NTT光エレクトロニクス研究所
-
日比野 善典
NTT光エレクトロニクス研究所
-
塙 文明
NTT光エレクトロニクス研究所
-
塙 文明
日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所:日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所:(現)nttエレクト
-
高戸 範夫
NTTエレクトロニクス
-
中込 弘
NTTエレクトロニクステクノロジー(株)
-
中込 弘
NTT光エレクトロニクス研究所
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