屋外曝露試験における石英系PLCモジュールの安定性(光部品・電子デバイス実装技術, 一般)
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概要
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ブロードバンドアクセスサービスの普及により、経済的な光アクセス網として光スプリッタを用いるPON(Passive optical network)の導入が積極的に進められている。この方式では光スプリッタを屋外に設置するため、光スプリッタには小型で低損失であることに加えて高い信頼性が求められる。石英系プレーナ光波回路を用いた光スプリッタは、これらの特徴をそなえており、PONへの適用性が高い。我々は、PLCモジュールの屋外環境における信頼性を検討するため、光スプリッタ、フィルタ内蔵波長無依存カプラ(WINC)の2種類のモジュールについて、気象条件の異なる3ヶ所で屋外に設置し、5万時間の暴露試験を行った。曝露試験の結果、各地点の全サンプルで光学特性の大きな変化は発生せず。フィルタ内蔵WINCのフィルタ性能も大きな劣化は発生しなかった。試験結果の試験場所による顕著な差異は見られなかった。試験結果よりPLCを屋外に設置しても信頼性上問題ないことを確認したので報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2003-08-21
著者
-
日比野 善典
日本電信電話株式会社NTT未来ねっと研究所
-
日比野 善典
日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所
-
日比野 善典
Nttフォトニクス研究所
-
石井 元速
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
福満 高雄
日本電信電話NTTフォトニクス研究所
-
福満 高雄
日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所
-
塙 文明
NTT光エレクトロニクス研究所
-
小口 泰介
NTTフォトニクス研究所
-
高木 章宏
日本電信電話株式会社 NTTフォトニクス研究所
-
塙 文明
日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所:日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所:(現)nttエレクト
-
小口 泰介
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
永井 収
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
福満 高雄
NTT光エレクトロニクス研究所
-
高木 章宏
日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所:(現)nttエレクトロニクス
-
石井 元速
日本電信電話(株)nttフォトニクス研究所
-
福満 高雄
日本電信電話(株)nttフォトニクス研究所
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