福満 高雄 | 日本電信電話NTTフォトニクス研究所

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概要

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関連著者

• 福満 高雄

  日本電信電話NTTフォトニクス研究所

• 福満 高雄

  日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所

• 福満 高雄

  NTT光エレクトロニクス研究所

• 福満 高雄

  日本電信電話(株)nttフォトニクス研究所

• 石井 元速

  日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所

• 石井 元速

  日本電信電話(株)nttフォトニクス研究所

• 土居 芳行

  日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所

• 高木 章宏

  日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所:(現)nttエレクトロニクス

• 土居 芳行

  日本電信電話(株)nttフォトニクス研究所

• 日比野 善典

  日本電信電話株式会社NTT未来ねっと研究所

• 金子 明正

  日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所

• 日比野 善典

  日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所

• 塙 文明

  NTT光エレクトロニクス研究所

• 高木 章宏

  日本電信電話株式会社 NTTフォトニクス研究所

• 塙 文明

  日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所:日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所:(現)nttエレクト

• 金子 明正

  NTTフォトニクス研究所

• 日比野 善典

  Nttフォトニクス研究所

• 笠原 亮一

  日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所

• 笠原 亮一

  Nttエレクトロニクス(株)

• 田村 保暁

  NTTエレクトロニクス(株)

• 小口 泰介

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• 小口 泰介

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• 鈴木 扇太

  日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所

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  日本電信電話nttフォトニクス研究所

• 田村 保暁

  Nttエレクトロニクス

• 都築 健

  日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所

• 美野 真司

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• 美野 真司

  日本電信電話(株)nttマイクロシステムインテグレーション研究所

• 都築 健

  日本電信電話(株)nttフォトニクス研究所

• 山崎 裕史

  日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所

• 亀井 新

  日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所

• 山崎 裕史

  NTTフォトニクス研究所

• 郷 隆司

  NTTフォトニクス研究所

• 郷 隆司

  日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所

• 郷 隆司

  日本電信電話株式会社 Nttフォトニクス研究所

• 山崎 裕史

  日本電信電話株式会社 Nttサイバーソリューション研究所

• 柴田 知尋

  日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所

• 田村 宗久

  日本電信電話株式会社 NTTフォトニクス研究所

• 田村 保暁

  日本電信電話株式会社 NTTフォトニクス研究所

• 荒武 淳

  日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所

• 才田 隆志

  日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所

• 才田 隆志

  日本電信電話株式会社

• 石井 元速

  NTTフォトニクス研究所

• 花房 広明

  (現)NTTエレクトロニクス株式会社

• 塙 文明

  (現)NTTエレクトロニクス株式会社

• 高木 章宏

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• 才田 隆志

  NTTフォトニクス研究所

• 田村 宗久

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• 郷 隆司

  Ntt フォトニクス研

• 亀井 新

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• 郷 隆司

  日本電信電話(株)nttフォトニクス研究所

• 荒武 淳

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• 山崎 裕史

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著作論文

• マルチチップ集積PLCモジュールにおけるチップ接続構造信頼性試験(光部品の実装・信頼性,一般)
• C-3-44 マルチチップ集積PLCモジュールの接続構造検討(C-3.光エレクトロニクス,一般セッション)
• マルチチップ集積PLCモジュールにおけるチップ接続構造信頼性試験(光部品の実装・信頼性,一般)
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• C-3-83 マルチチップ集積PLCモジュールの長期信頼性試験(パッシブデバイス(1),C-3.光エレクトロニクス,一般講演)
• 屋外曝露試験における石英系PLCモジュールの安定性(光部品・電子デバイス実装技術, 一般)
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• C-3-25 屋外曝露試験における石英系PLCモジュールの安定性
• C-3-89 128心ファイバー括接続技術を用いた低損失25GHz-128ch AWGモジュールの開発
• C-3-9 マルチチップ集積PLCモジュールの熱応力解析と長期信頼性試験(光変調器波導路デバイス,C-3.光エレクトロニクス,一般セッション)
• C-3-57 高信頼性石英-LiNbO_3ハイブリッド変調器の設計と評価(C-3.光エレクトロニクス,一般セッション)

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