コネクタ小型化の要求を考慮した超低接触力W-R特性試験
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概要
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コネクタ小型化の要求を満足するために低接触力のコネクタ接点の可能性を探るため、超低接触力近傍のW-R特性を測定した。およそ、10[mN]程度から接触抵抗値が安定し始めることを確認した。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2004-04-09
著者
-
箕輪 功
玉川大学工学部
-
箕輪 功
玉川大学 工学部 電子工学科
-
田中 貴仁
玉川大学 大学院電子情報工学専攻
-
箕輪 功
玉川大学工学部知能情報システム学科
-
箕輪 功
玉川大 工
-
星川 重之
日本モレックス株式会社
-
野田 敦人
日本モレックス株式会社
-
鈴木 照仁
日本モレックス株式会社
-
箕輪 功
玉川大学
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