抵抗の線形性測定のためのLCフィルタ製作(卒論・修論特集(ショートノート))

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概要

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近年、電子回路システムの進化に伴い、人工衛星や宇宙探査機などに搭載される電子情報通信機器に使用される部品は小型化、高周波化や信頼性が求められている。しかし通常、抵抗はオームの法則には完全には従わないことが多い。一般的に直線性からのずれは極めて僅かであるため、測定は高感度な検出装置が必要である。本研究は抵抗の評価法として、オームの法則に従う理想的な抵抗を追求するために、高感度にひずみ電圧が測定できる装置の製作を目的としている。
2011-02-25

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