金属界面接触抵抗の酸化膜厚依存性
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概要
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- 2005-03-04
著者
-
後藤 昌彦
玉川大学工学部
-
箕輪 功
玉川大学 工学部 電子工学科
-
後藤 昌彦
玉川大学 学術研究所
-
田中 貴仁
玉川大学 大学院電子情報工学専攻
-
角田 好司
玉川大学 大学院電子情報工学専攻
-
菅野 辰哉
玉川大学 大学院電子情報工学専攻
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