台形波パルス電圧印加による薄膜EL素子の特性評価
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概要
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ZnS:Mn薄膜EL素子とSrS:Ce薄膜EL素子の電気的特性の評価として、Q-V特性とQ-Fp特性の測定を行なった。駆動電圧波形として、台形波パルスを用い、各々の測定結果について比較検討を行った。その結果、印加電圧波形のdv, dtを変化させるとQ-Vループのターンオン電圧がSrS:Ce薄膜EL素子では変化するにの対し、ZnS:Mn薄膜EL素子についてはあまり変化しないことを見し出した。また、輝度-移動電荷量特性は両方の素子ともdv/dtにほとんど依存しなかった。これらのことよりSrS:Ce薄膜EL素子の動作機構を考える場合、発光層中の空間電荷の発生を考慮する必要があることがわかった。
- 1994-01-20
著者
-
大観 光徳
鳥取大学工学部
-
井上 智
鳥取大学工学部電気電子工学科
-
田中 省作
鳥取大学工学部
-
小林 洋志
鳥取大学工学部
-
大観 光徳
鳥取大学工学研究科電気電子工学専攻
-
喜種 佳司
鳥取大
-
喜種 佳司
鳥取大学工学部電気電子工学科
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