Dual-Mode発振を利用した高安定OCXO
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-03-07
著者
関連論文
- 狭帯域コルピッツ発振回路におけるキャリア近傍位相雑音の改善
- 電極金属の反射特性を利用した鏡面圧電振動子の面内振動測定
- バースト励振を利用した簡易レーザ干渉システムによる圧電振動デバイスの面外振動変位可視化(光-超音波エレクトロニクス論文特集)
- レーザスペックル振動変位測定法への二次元相関フィルタの応用
- 触診検出が困難な腫瘍組織発見のための基礎研究
- P3-27 2段バイメサ構造水晶振動子に関する実験的検討(ポスターセッション3,ポスター発表)
- P2-41 周囲組織と硬さの近い検出対象内包物の描出 : Tissue Elasticity Imagingに基づく基礎的検討(ポスターセッション2,ポスター発表)
- Tissue Elasticity Imaging における硬さ検出感度改善の試み
- SA-3-1 バイメサ型水晶振動子の周波数温度特性に関する実験的検討
- SA-5-8 部分感応膜を持つマルチモードQCMの一設計法
- PE08 部分電極LiTaO_3-X板の特性解析と定数比較(ポスターセッションI)
- PF15 水晶AT板ストリップにおける分散特性の厳密解析(ポスターセッション4-概要講演・展示)
- Leeの平板方程式の方形AT板への適用性の検討
- 2次元弾性振動における方形自由境界問題の1D有限要素解法とその応用
- 電極金属の反射特性を利用した鏡面圧電振動子の面内振動測定
- 触診検出が困難な腫瘍組織発見のための基礎研究
- 水晶振動子共振周波数変動の精密測定法
- 高安定水晶発振回路における長期周波数安定度劣化要因に関する実験的検討
- 高安定水晶発振器の周波数エージングに関する一検討
- 水晶振動子の共振周波数変動の精密測定
- 狭帯域コルピッツ水晶発振回路の周波数変動抑制効果に関する検討
- 圧電共振フィルタを用いたSCカット水晶発振回路の代数解析とマルチモード発振器への応用
- 精密周波数発生回路の安定化技術調査専門委員会 技術報告
- 非接地振動子接続端子を持つ水晶発振回路の負性抵抗-周波数特性の測定
- 方形水晶AT板スプリアスの周波数温度特性に関する検討
- 水晶AT板無限ストリップ中の被導波モード分散特性
- メサ構造を有する水晶振動子の特性解析
- 圧電セラミック円筒における軸対称圧電振動の1次元有限要素解析
- 3次高調波AT板におけるスプリアス振動の周波数温度特性解析
- 水晶共振フィルタを用いた高安定OCXOの長期周波数安定度
- PE1 高安定水晶振動子の周波数 : 温度特性の精密測定(ポスターセッション3)
- OCXO用低位相雑音水晶発振回路
- 超小型精密周波数発生回路と応用技術調査専門委員会 技術報告
- CCDカメラによる圧電振動デバイスの振動変位測定
- 水晶振動子のスプリアスモードを利用した微量質量センサ
- Dual-Mode発振を利用した高安定OCXO
- A-11-8 マイクロフォンを利用した無電極水晶板の振動モード測定
- 水晶振動子のモード結合と設計への応用
- LiTaO_3-X板の強制圧電振動の3次元解析
- 圧電共振子フィルタを用いた周波数選択型水晶発振回路の代数解析とそのマルチモード発振器への応用
- 水晶フィルタを用いた狭帯域CMOS水晶発振回路
- 精密周波数発生回路の小型化技術調査専門委員会技術報告
- PC-21 マルチモード水晶ガスセンサ
- 発振器法によるOCXO用水晶振動子の共振電流-共振周波数特性の精密測定
- 水晶振動子における電流-共振周波数特性の高精度測定
- 表面電荷測定による圧電振動板微小振動モードの検出
- 水晶振動子のスプリアスモードを利用した微量質量センサの質量位置決定のFEM解析とエージング特性
- 水晶振動子のスプリアスモードを利用した微量質量センサーに関する一考察
- A-11-9 表面電荷測定による部分電極振動子の微弱モード検出
- PD4 表面電荷測定を利用した水晶板微弱共振の検出(バルク波デバイス,ポスターセッション2)
- 方形 AT 板スプリアスにおける表面電荷分布の測定と解析
- コンデンサマイクロフォンによる方形水晶板表面振動変位分布計測
- Leesonモデルに基づいたDual-Mode水晶発振回路の位相雑音解析
- A-1-40 Dual Mode水晶発振回路の位相雑音モデル
- 周波数選択型水晶発振回路の負性抵抗解析
- マイクロフォンを利用した水晶板振動モードの測定
- 発振器を利用した水晶DLD測定法の測定範囲拡大に関する一検討
- 方形AT板のZ'寸法によるスプリアス特性の変化の解析 : 表面電荷分布による検討