大面積超伝導薄膜の表面抵抗の測定
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概要
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誘電体共振器を用いた超伝導体の表面抵抗(R_s)測定時に生ずる誤差についての評価を行なった。誘電体の熱的な収縮、誘電損、各測定間の共振周波数及びQにおけるばらつきを検討した。直径の異なる3種類のサファイア(3.8, 5.8, 9.5GHz)を用いて3inchのYBa_2Cu_3O_yの表面抵抗の評価を行なった結果、臨界電流密度J_cが均一な薄膜においては10GHz換算のR_sはほぼ一致する値を示した。一方、J_cが均一でない薄膜においては、その分布を反映したR_sの違いが観測された。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-10-20
著者
-
大嶋 重利
山形大学工学部
-
向田 昌志
山形大学工学部
-
楠 正暢
山形大学工学部電子情報工学科
-
ミヒャエル ローレンツ
ライプツイヒ大学
-
ホルガー ホフムス
ライプツイヒ大学
-
ディーター ノートゥッシュ
ライプツイヒ大学
-
トーマス ターリゲン
ライプツイヒ大学
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