38GHz誘電体共振器を用いた超伝導薄膜の磁場中表面抵抗測定(マイクロ波,超伝導,一般)
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概要
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38GHz誘電体共振器を用いて超伝導薄膜における表面抵抗(R_s)測定を行った.測定サンプルにはDyBa_2Cu_3O_<7-δ>(700nm)/MgO高温超伝導薄膜を用いた.SMAコネクタを用いた測定システムにおいても10mΩ以下のR_s測定が可能であることがわかった.また,38GHzでの測定に用いるサンプルサイズはキャビティの空洞を完全に覆うことのできる10×10mmの大きさで充分であり,大面積サンプルの面内分布測定が円筒空洞径程度の分解能で可能であることがわかった.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-04-13
著者
-
山崎 裕文
産総研
-
中川 愛彦
産総研
-
山崎 裕文
産業技術総合研究所
-
中川 愛彦
産業技術総合研究所
-
齊藤 敦
山形大学工学部
-
平野 悟
山形大学工学部
-
大嶋 重利
山形大学工学部
-
谷口 洋平
山形大
-
野口 洋祐
山形大学工学部
-
齊藤 敦
山形大工
-
谷口 洋平
山形大学工学部
-
山崎 裕文
産業技術総合研
-
武田 伸弥
山形大学工学部
-
平野 悟
山形大
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