第3高調波電圧を用いる誘導法によるBi-2223厚膜試料の臨界電流密度の非破壊測定
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概要
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- 2003-12-03
著者
-
山崎 裕文
産総研
-
中川 愛彦
産総研
-
馬渡 康徳
産総研
-
山崎 裕文
電総研
-
馬渡 康徳
電総研
-
馬渡 康徳
産業技術総合研究所(産総研)
-
山崎 裕文
産業技術総合研
-
馬渡 康徳
産総研 電力エネルギー研究部門
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