RE(Y,Dy,Nd)Ba_2Cu_3O_<7-δ>薄膜の磁場中表面抵抗測定(マイクロ波超伝導/一般)
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概要
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RE(Y,Dy,Nd)Ba_2Cu_3O_<7-δ>/MgO薄膜における表面抵抗(R_s)の温度依存性及び直流磁場依存性を測定し、RE材料の違いによるR_sの本質的な違いについて検討を行った。R_sの測定には誘電体共振器法を用いた。印加磁場0TにおけるR_sの温度依存性ではDyBCO、NBCO、YBCO薄膜ともに同程度の低いR_sを示した。また, R_sの直流印加磁場依存性から低温領域ではYBCO、DyBCO、NBCO薄膜の磁場中におけるR_sは同程度であるが、高温になるに従ってDyBCO薄膜がYBCO、NBCO薄膜よりも低いR_sを示した。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2007-04-20
著者
-
小野 哲
山形大学大学院理工学研究科
-
齊藤 敦
山形大学工学部
-
平野 悟
山形大学工学部
-
大嶋 重利
山形大学工学部
-
小野 哲
山形大学工学部
-
谷口 洋平
山形大
-
齊藤 敦
山形大工
-
谷口 洋平
山形大学工学部
-
平野 悟
山形大
-
斉藤 敦
長岡技科大工学部電気系
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