薄膜標準ガラスビード法によるケイ酸系試料の二次ターゲット蛍光X線分析
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概要
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ケイ酸主成分試料の迅速定量法として、薄膜を標準とする二次ターゲットXRF法について検討した。試料をホウ酸リチウムと混合してガラスビードとした後、X線スペクトルを測定し、簡単な計算によりマトリックス効果を除去する。この方法を岩石などの標準試料に適用したところ、鉄、マンガン、チタン、カルシウム、カリウム、アルミニウム、マグネシウムの定量が可能であることが分かった。ケイ素については低い値が得られたが、これはビード作製時の消失による可能性が強い。又、本法ではビード作製時の試料とホウ酸リチウムの混合比が定量結果に影響しないので、適当な量の試料とホウ酸リチウムを混合し両者の重量を測定するだけでよく、ケイ素以外の元素の簡便な分析ができるものと考えられる。
- 社団法人日本分析化学会の論文
- 1989-06-05
著者
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