Fe_2O_3-Bi_2O_3-PbTiO_3系酸化物薄膜における磁界による誘電率変化 : 酸化物・微粒子
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概要
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In Fe_2O_3-Bi_2O_3-PbTiO_3 system thin films prepared by rf-reactive sputtering, the real part, ε_r', of dielectric permittivity, was changed by applying a magnetic field H . The Δε_r' vs. H curves of the films subjected to annealing at various temperatures were strongly correlated with their magnetization properties. The maximum relative value of|Δε_r'(H)/ε_r'| reached as much as 1.0%. A Δε_r'(H) curve can be reconstructed by a simple model based on uniform magnetization rotation.
- 社団法人日本磁気学会の論文
- 2002-04-01
著者
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