CdTeホモエピタキシーにおける特異面 : エピタキシャル成長IV
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概要
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Surface of homoepitaxial CdTe layers was observed by atomic force microscope.to examine the step structure. There exist two kinds of characteristic facet, (111) and (100), whose shape and width vary with substrate plane orientation and the supersaturation of the source material. The larger the area of (111) facet, the more likely twins are formed
- 日本結晶成長学会の論文
- 2000-07-01
著者
-
原田 昌幸
山梨大・工
-
春日 正伸
山梨大大学院
-
春日 正伸
山梨大・工
-
春日 正伸
山梨大学工学部
-
清水 和博
山梨大・工・電気電子
-
吉岡 泰志
山梨大・工
-
高垣 勝彦
山梨大・工
-
清水 和博
山梨大・工
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