31a-YK-5 高速中性子照射されたNiおよびNi-Cu中のボイドの陽電子寿命測定

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 1998-03-10

著者

• 福島 博

  広大・工

• 下村 義治

  広大工

• 福島 博

  広大工

• 下村 義治

  広島大工

• 下村 義治

  広島大学工学部

• 下村 義治

  広島大理

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