福島 博 | 広大工
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概要
関連著者
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福島 博
広大・工
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福島 博
広大工
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下村 義治
広大工
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広島大学工学部
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横手 伸祐
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広島大理
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口脇 勇
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桐谷 道雄
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星野 敏春
静岡大学創造科学技術大学院光・ナノ物質機能専攻
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星野 敏春
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安里 光裕
東京都立工業高等専門学校一般教養科
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マツダ
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平林 孝悠
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Jenkins M.L.
oXford大学
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Kirk M.
国立研
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谷田 芳夫
広大工
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広大工:マツダ
著作論文
- 23pWZ-6 電解メッキ法によるCrMoメッキ層中の高密度ナノボイド形成とその構造(23pWZ 格子欠陥・ナノ構造(金属,点欠陥,シュミレーション),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
- 31p-M-4 極低温で中性子照射されたAu中のカスケード損傷欠陥形態の照射量依存
- 25aY-8 Cu基底合金中の原子空孔形成エネルギーの第一原理計算
- 3a-SG-13 急冷したアルミニウム希薄合金中のボイドの形成
- 28aXT-3 陽電子寿命測定によるCVDで成長した多結晶シリコン中の欠陥構造(格子欠陥・ナノ構造)(領域10)
- 21aXA-7 太陽電池用シリコンの凝固過程と結晶粒界形成の HREM その場観察
- 18aTH-5 中性子照射後焼鈍したSi中の欠陥構造と陽電子寿命
- 27pYC-7 陽電子寿命測定によるSi中のカスケード損傷欠陥
- 25pYP-3 低温中性子照射したSiの陽電子寿命測定による回復過程
- 25pY-1 陽電子寿命測定による銅中の低温カスケード損傷の照射量依存
- 28p-ZA-13 TEMによる20Kで600kV自己イオン照射した銅中のカスケード損傷欠陥
- 26a-T-1 低温で観察される欠陥集合体の空間分布から予測されるカスケード損傷過程
- 31a-YK-5 高速中性子照射されたNiおよびNi-Cu中のボイドの陽電子寿命測定
- 5p-S-16 陽電子寿命測定による微小な空洞型欠陥と転位型欠陥の識別について
- 28a-E-8 中性子照射されたNi合金中のボイド表面でのポジトロニウム形成
- 低温中性子照射した金属の低温TEM観察
- 28pTJ-4 CrMoメッキ層中のナノポーラス組織の構造と物性(28pTJ 格子欠陥・ナノ構造(金属・転位・点欠陥,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))