5p-S-16 陽電子寿命測定による微小な空洞型欠陥と転位型欠陥の識別について

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 1997-09-16

著者

• 福島 博

  広大・工

• 下村 義治

  広大工

• 福島 博

  広大工

• 下村 義治

  広島大工

• 下村 義治

  広島大学工学部

• 下村 義治

  広島大理

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