27pYC-7 陽電子寿命測定によるSi中のカスケード損傷欠陥

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2001-03-09

著者

• 福島 博

  広大・工

• 福島 博

  広大工

• 横手 伸祐

  広大工

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