20pHT-11 陽電子寿命測定法によるAINセラミックス中の熱伝導率と透光性に寄与する格子欠陥(20pHT 格子欠陥,ナノ構造(半導体),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

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概要

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• 2010-03-01

著者

• 福島 博

  広大・工

• 金近 幸博

  (株)トクヤマ

• 森永 啓太郎

  広大・工

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