25pYP-3 低温中性子照射したSiの陽電子寿命測定による回復過程

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2000-09-10

著者

• 福島 博

  広大・工

• 福島 博

  広大工

• 横手 伸祐

  広大工

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