急冷した金の硬化とその回復 : 格子欠陥
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1966-10-15
著者
関連論文
- 25pA27p 核融合中性子照射による金属の損傷過程 : 日本原子力研究所FNSでの照射実験計画(プラズマ基礎/炉材料)
- 低温で核融合中性子照射した金属のクライオ・トランスファー電子顕微鏡観察
- 5p-S-15 高温で変形したアルミニウム薄膜での原子空孔集合体形成
- 5p-S-4 面心立方金属薄膜での原子空孔形成のシミュレーション
- 核形成成長理論による空孔集合過程の解析 : 格子欠陥
- 過飽和原子空孔の消滅過程の解析 : 格子欠陥
- 6a-P-3 アルミニウムにおける高濃度急冷原子空孔の比較的低温での回復
- 6a-P-2 アルミニウムにおける高濃度急冷原子空孔の室温付近での回復
- 6a-P-1 空孔集合体欠陥の消滅過程の解析
- 14p-G-10 金の急冷原子空孔の集合過程にたいする塑性変形の影響
- 14p-G-9 アルミニュウム空孔集合体欠陥の消滅と空孔濃度の関係
- 13a-G-7 アルミニウムの積層欠陥エネルギーの測定にたいする不純物の影響
- 3a-L-8 原子空孔集合過程の解析II
- 3a-L-7 急冷したアルミニウムの比較的低温における二次欠陥の形成
- 3a-L-6 アルミニウムにおける急冷原子空孔の集合過程と電気抵抗
- 急冷したアルミニウムのvoidの核形成と成長 : 格子欠陥
- 転位の運動による急冷原子空孔集合体の核形成 : 格子欠陥
- 急冷金属中の二次欠陥の消滅と電気抵抗変化 : 格子欠陥
- 急冷原子空孔の消滅過程 I Small vacancy clusterの役割 : 格子欠陥
- 急冷した金属の二次欠陥
- 急冷アルミニウムの各種二次欠陥の電気抵抗 : 格子欠陥
- 急冷した純銅の二次格子欠陥 : 格子欠陥
- 急冷二次欠陥の形成機構 : 格子欠陥
- アルミニウムの急冷硬化 : 格子欠陥
- 1p-CE-12 純金及び金の希薄合金中の微少空孔集合体
- 3p-B-1 物理光学理論による多波近似と電子顕微鏡像への応用
- 23aYP-11 室温温度制御して14MeV中性子照射した金、銀、銅の損傷欠陥の形成
- 電子線照射したAl双晶粒界に形成される欠陥集合体
- 急冷したアルミニウムのvoidのheterogeneous nucleation : 格子欠陥
- 面心立方金属の急冷二次欠陥の形成に及ぼす雰囲気ガスの影響 : 格子欠陥
- アルミニウム合金の急冷二次欠陥 : 格子欠陥
- アルミニウムの急冷二次欠陥の形成におよぼす雰囲気ガスの影響 : 格子欠陥
- アルミニウムのintrinsic typeとextrinsic typeのstacking fault energy : 格子欠陥
- 10a-M-7 急冷アルミニウム中の二次欠陥の消滅過程
- 8a-P-10 急冷アルミニウム中のDislocation loopの焼鈍過程
- 11a-C-7 加工したアルミニウム薄膜の回復過程の観察
- 強加工したAl薄膜中のPrismatic Dislocation Loops : 結晶塑性・格子欠陥
- 急冷したアルミニウムにおけるdislocation loopの形成 : 格子欠陥
- 4p-DQ-6 チャネリング・パスに入るノックオン原子
- 6p-M-2 照射した純金中の線状欠陥の成長と消滅
- 7p-Q-4 金,アルミニウムの高速中性子損傷
- 25a-L-2 変形した金の回復過程
- 31a-YK-12 bcc金属のEAMポテンシャルの比較
- 31a-YK-5 高速中性子照射されたNiおよびNi-Cu中のボイドの陽電子寿命測定
- 5p-S-16 陽電子寿命測定による微小な空洞型欠陥と転位型欠陥の識別について
- 10a-M-6 加工したアルミニウムの回復
- 29p-ZB-6 積層欠陥付近での原子空孔の移動と集合のアトミスティック・シミュレーション
- 26a-T-13 原子空孔シンクとしての積層欠陥と双晶境界
- 26a-T-11 高温での積層欠陥四面体合体の過程
- 5p-S-5 Alの積層欠陥及び双晶面への原子空孔の偏析
- 27aYL-8 コンピュータ・シミュレーションによるバナジウム中の格子間原子の移動エネルギーの決定
- 26a-T-10 高温で中性子照射した面心立方金属でのボイドの形成
- アルミニウムの急冷硬化 : 格子欠陥
- 加工したアルミニウムの焼純過程における電気抵抗 : 格子欠陥
- 高速イオン照射した金属の損傷発達基礎過程と水素・ヘリウム原子と損傷欠陥の相互作用の研究 (大学・原研プロジェクト研究(放射線高度利用)) -- (核融合炉材料照射損傷に対する核変換生成物の影響に関する研究)
- 空洞形成による金属材料破壊の原子レベル機構
- 23aYP-12 高温で核分裂中性子照射した純銅中のボイドの核形成と成長機構
- 電子線ホログラフィによる原子空孔集合体の観察
- 26a-T-9 中性子照射した銅中のボイドの高温での移動
- アルミニュームのクリープの活性化エネルギー(格子欠陥)
- 3p-M-13 アルミニウム単結晶中の転位配列
- 急冷した金の硬化とその回復 : 格子欠陥
- 転位の運動に対する抵抗力(格子欠陥)
- 14a-Q-5 急冷直後の金の直接観察
- 11p-U-10 急冷した金におけるtetrahedraの形成過程
- 9a-K-9 金属薄膜中の転位の再配列 II
- 3a-M-8 急冷した高純度金の回復
- 8a-F-4 変形したAlの室温附近での回復
- 10p-P-10 純アルミニウム中の微小原子空孔集合体の安定性
- 5a-B-2 固液界面における不純物の挙動
- 急冷した金のblack spot defect : 格子欠陥
- 金におけるstacking fault tetrahedraの消滅機構 : 格子欠陥
- アルミニウムにおける急冷原子空孔の消滅過程と電気抵抗 : 格子欠陥
- 金における急冷二次欠陥の消滅機構 : 格子欠陥
- 純金中のvacancy sinkとしての転位 : 格子欠陥
- アルミニウムの急冷二次欠陥の形成におよぼす不純物の影響 : 格子欠陥
- 急冷金中の二次欠陥の形成過程 : 格子欠陥
- 急冷した金のvoid : 格子欠陥
- 10a-M-10 急冷アルミニウム中の二次欠陥の核形成時間
- 10a-M-9 Voidが原子空孔の集合体であることの一つの証拠
- 10a-M-8 比較的低温から急冷したアルミニウム中の凍結空孔II
- 比較的低温から急冷したアルミニウム中の凍結空孔 : 格子欠陥
- 急冷アルミニウム中のvoidの形と電顕像 : 格子欠陥
- 急冷アルミニウム中のvoidとdislocation loop(格子欠陥)
- 8a-P-9 急冷アルミニウムにおけるdislocation loopの発生
- 5a-DQ-5 電子線照射したアルミニウムにおける格子間型ループの成長速度
- 10p-P-11 急冷した純金中の積層欠陥四面体の成長
- 5a-KM-3 アルミニウム稀薄合金の熱電能
- 24a-L-2 エネルギー選択した格子欠陥電顕像の観察のこころみ
- 12a-L-9 変形したアルミニウムの熱電能
- 4a-N-10 転位による熱電能
- 10p-N-6 原子空孔を含む純金の低温照射損傷