27p-N-5 緩和したSiGe/Siエピタキシャル膜中に誘起される少数キャリアトラップ

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 1995-09-12

著者

• 前田 康二

  東大・工

• 白木 靖寛

  東大・先端研

• 白木 靖寛

  都市大総研

• 深津 晋

  東大・教養

• 目良 裕

  東大 ・工

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