粒径制御されたアルミナ研削加工面のX線残留応力測定に関する一考察
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概要
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- 1999-02-01
著者
-
高木 純一郎
横浜国立大学
-
冨野 寿和
香川県産業技術センター
-
横田 耕三
香川県産業技術センター
-
横田 耕三
香川県工業技術センター材料技術部門
-
近藤 祥人
香川県工業技術センター
-
佃 昭
香川県工業技術センター
-
近藤 祥人
香川県産業技術センター材料技術部門
-
佃 昭
香川産技センター
-
冨野 寿和
香川県工業技術センター
-
佃 昭
Kagawa Prefectural Industrial Technology Center
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