a-Si : H/a-SiO : H 界面に形成される水素に対するポテンシャル障壁の高さ測定
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概要
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- 電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティの論文
- 1992-02-25
著者
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本間 和明
東京電機大学工学部電気電子工学科
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本間 和明
東京電機大学
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本橋 光也
東京電機大学工学部
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本橋 光也
東京電機大学工学部情報通信工学科
-
村山 勇樹
東京電機大学工学部応用理化学科
-
本間 和明
東京電機大 工
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