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九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST | 論文

• スキャンBISTにおけるマルチサイクルテストと部分観測方式の提案と評価(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
• スキャンBISTにおけるマルチサイクルテストと部分観測方式の提案と評価(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
• マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
• マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
• フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価(ばらつき・フィールドテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
• 低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について(低消費電力・遅延テスト・高精度欠陥推定,VLSI設計とテスト及び一般)
• フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価
• 低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について
• リングオシレータ利用モニタ回路によるチップ内温度・電圧の試作評価とフィールドテストへの活用検討(設計/テスト/検証)
• 論理BISTの電力低減手法と評価(設計/テスト/検証)
• マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
• マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
• フィールドテストのための温度・電圧モニタ回路構成の検討(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
• フィールドテストのための温度・電圧モニタ回路構成の検討(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
• モニタ回路による製造バラツキを考慮した温度・電圧推定手法(フィールトテストと許容故障判定, VLSI設計とテスト及び一般)
• フィールドにおけるLSI劣化テストの可能性に関する一考察(設計/テスト/検証)
• リングオシレータ利用モニタ回路によるチップ内温度・電圧の試作評価とフィールドテストへの活用検討

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