安達 正明 | 金沢大学理工学域
スポンサーリンク
概要
関連著者
-
安達 正明
金沢大学理工学域
-
安達 正明
金沢大学大学院
-
稲部 勝幸
金沢大学
-
稲部 勝幸
金沢大学工学部
-
安達 正明
金沢大 大学院
-
安達 正明
金沢大学工学部
-
松本 哲也
兵庫県立工業技術センター
-
北川 洋一
兵庫県立工業技術センター ものづくり開発部
-
安達 正明
金沢大学
-
北川 洋一
兵庫県立工業技術センター
-
安達 正明
金沢大学大学院自然科学研究科機能機械科学専攻
-
北川 洋一
兵工技センター
-
川口 格
大阪府立大学工学部
-
松本 哲也
兵庫県工業技術センター
-
安達 正明
金沢大学 工学部
-
中里 一茂
兵庫県工業技術センター
-
安達 正明
兵庫県立工業試験場
-
高山 稔
金沢大学工学部
-
舛岡 淳司
富士通機電(株)
-
大杉 博人
大同工業(株)
-
北川 洋一
兵庫県工業技術センター
-
中里 一茂
兵庫県立工業技術センター
-
三木 秀司
(株)神戸製鋼所
-
中井 康秀
(株)レオ技研
-
岩尾 雄太
金沢大学大学院
-
安達 正明
金沢大
-
上田 覚児
金沢大学
-
稲部 勝幸
金沢大学 工学部
-
平林 崇
(株)デンソー
-
鈴木 紀生
(株)神戸製鋼所浅田研究所
-
鈴木 紀生
(株)神戸製鋼所
-
河村 昌範
金沢大学大学院
-
八坂 勝彦
コーガク
-
中村 信一郎
金沢大学
-
水上 陽平
金沢大学
-
藤本 健太
(株)パイオニア
-
平野 勇輝
(株)ジーシー
-
丹原 嘉彦
金沢大学大学院
-
岡田 幸治
金沢大学 工学部
-
岡崎 秀和
金沢大学 工学部
-
舛岡 淳司
金沢大学工学部
-
上田 覚児
(株)PFU
-
榎本 文彦
金沢大学大学院
-
平林 崇
金沢大学工学部
-
大杉 博人
金沢大
-
川崎 修慈
金沢大学工学部
-
大杉 博人
金沢大学工学部
-
亀井 光仁
三菱電機
-
亀井 光仁
三菱電機(株)
-
亀井 光仁
三菱電機株式会社
-
大谷 忠
東京農工大学農学部
-
喜多山 繁
東京農工大学農学部
-
稲部 勝幸
金沢大 工
-
三宅 英介
金沢大学
-
平野 勇輝
(株)ジーシー
-
有川 龍郎
金沢大・院
-
堀田 仁志
金沢大・院
-
丹羽 康人
金沢大学大学院自然科学研究科
-
八高 隆雄
横浜国立大学 大学院工学研究院
-
八高 隆雄
横浜国立大学
-
岩尾 雄太
金沢大学大学院自然科学研究科
著作論文
- 光学式の表面形状測定法 (概説)
- 2色干渉式高速高精度3次元形状測定法の開発
- 空気擾乱の影響を受けにくい光干渉応用変形測定法
- デジタルホログラフィーでのコンピュータ内2波長再生による形状計測法の検討
- 走査型白色干渉顕微鏡に内蔵可能な光路差変化量のリアルタイム測定法
- 2波長スペックル干渉法を用いた変形測定
- スペックル干渉計でのモジュレーション変動下の連続大変形計測
- スペックル干渉計でのモジュレーション変動下の大変形計測
- 電子スペックル干渉法による大変形の連続計測
- 2種類の広帯域波長光源組み込み垂直走査型干渉計を用いる高精度形状計測(その2)
- スペックル干渉計での連続大変形測定
- 半導体レーザの狭域波長走査を用いたスペックル干渉計での粗面の形状計測
- 2種類の広帯域波長光源を組み込んだ垂直走査型干渉計を用いる高精度形状計測
- 連続取込みスペックル干渉画像における初期位相測定法
- 二波長スペックル干渉法による固体材料の変形測定
- 垂直走査型白色干渉法における走査速度の高速化
- LDの狭域波長走査を用いた粗面の形状計測
- ラジアルシェア干渉計を用いる粗面の形状計測
- 位相シフト量に影響されないスペックル位相の抽出法 : 粗面の連続微小変形量の高精度測定のための
- 変形後のスペックル画像を1枚だけ用いる定量的変形計測-高精度化への改良-
- 半導体レーザの波長走査を用いた粗面物体の3次元形状計測
- 位相シフトしながら連続取込みしたスペックル画像を用いる高精度位相測定
- 半導体レーザを用いた段差を持つ粗面の形状計測 : 3波長での位相測定を用いる方法
- 動的に変形している粗面のESPI法による変形量の測定
- 2個の高輝度LEDと垂直走査型干渉計を用いる高速nm精度形状計測
- 段差センシングのための新しい光切断型形状測定システム
- ESPIでの4画面位相シフト法におけるランダムなシフト誤差補正法
- ラジアルシェア干渉計を用いた粗面物体の3次元形状計測法
- 3波長での位相データを基にした段差を持つ粗面の形状計測
- シェアログラフィーを利用した形状計測
- ESPI位相シフト法を用いた連続変形物体の変形スピード計測
- ピエゾ素子のシフト誤差を補正できる4画面位相シフト法
- 上下振動の影響を受けない高精度粗さ測定法(第2報) : 完全な平面を必要としない断面彩状の測定法
- オプティカルスキッド法における反射率の変動が与える測定誤差の補正法
- 上下振動の影響を受けない高精度粗さ測定法(第1報) : オプティカルスキッド法の提案
- 光スキッド法による超精密面の形状評価
- 逐次3点法の連続形状計測への拡張
- 観察面の上下振動の影響を受けない光を用いた超精密面の全方向粗さ測定
- 2光束干渉顕微鏡を用いる超精密面の粗さ測定法
- 反射レ-ザ-光拡がりによる金属表面粗さ形状のモニタリング
- 1007 ラインカメラを用いたnm精度での縦方向変位とμm精度での横方向変位の同時測定(OS10-2 変位・形状の計測,オーガナイズドセッション:10 部材の健全性を支える計測・評価技術)
- 干渉顕微鏡観察下の粗面の垂直走査域100μmでの光路差変化の高精度測定
- 振動環境でも利用できる垂直走査型光干渉応用形状計測技術
- 振動環境下で撮影された干渉像からの高精度位相抽出
- 112 レーザとカラーカメラを用いた2次元変形測定法(構造部材や加工プロセスの信頼性を支える計測・評価技術)
- 111 ラインカメラと共焦点原理を用いた三次元形状計測法(構造部材や加工プロセスの信頼性を支える計測・評価技術)
- 振動環境下で撮影された干渉像からの高精度位相抽出