安達 正明 | 金沢大学

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著作論文

• 光学式の表面形状測定法 (概説)
• 2色干渉式高速高精度3次元形状測定法の開発
• 空気擾乱の影響を受けにくい光干渉応用変形測定法
• デジタルホログラフィーでのコンピュータ内2波長再生による形状計測法の検討
• スペックル干渉計でのモジュレーション変動下の大変形計測
• 電子スペックル干渉法による大変形の連続計測
• 1007 ラインカメラを用いたnm精度での縦方向変位とμm精度での横方向変位の同時測定(OS10-2 変位・形状の計測,オーガナイズドセッション:10 部材の健全性を支える計測・評価技術)

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