安達 正明 | 金沢大 大学院
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概要
関連著者
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安達 正明
金沢大学理工学域
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安達 正明
金沢大 大学院
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金沢大学大学院
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稲部 勝幸
金沢大学
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稲部 勝幸
金沢大学工学部
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安達 正明
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金沢大学工学部
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高山 稔
金沢大学工学部
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松本 哲也
兵庫県立工業技術センター
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安達 正明
金沢大学 工学部
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安達 正明
金沢大
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上田 覚児
金沢大学
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舛岡 淳司
富士通機電(株)
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安達 正明
金沢大学大学院自然科学研究科機能機械科学専攻
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中村 信一郎
金沢大学
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水上 陽平
金沢大学
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丹原 嘉彦
金沢大学大学院
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松本 哲也
兵庫県工業技術センター
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北川 洋一
兵庫県立工業技術センター
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岡田 幸治
金沢大学 工学部
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岡崎 秀和
金沢大学 工学部
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稲部 勝幸
金沢大学 工学部
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大杉 博人
大同工業(株)
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上田 覚児
(株)PFU
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榎本 文彦
金沢大学大学院
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大杉 博人
金沢大
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稲部 勝幸
金沢大 工
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三宅 英介
金沢大学
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北川 洋一
兵庫県立工業技術センター ものづくり開発部
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有川 龍郎
金沢大・院
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堀田 仁志
金沢大・院
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北川 洋一
兵工技センター
著作論文
- 光学式の表面形状測定法 (概説)
- 2色干渉式高速高精度3次元形状測定法の開発
- 空気擾乱の影響を受けにくい光干渉応用変形測定法
- デジタルホログラフィーでのコンピュータ内2波長再生による形状計測法の検討
- 2波長スペックル干渉法を用いた変形測定
- スペックル干渉計でのモジュレーション変動下の連続大変形計測
- スペックル干渉計でのモジュレーション変動下の大変形計測
- 電子スペックル干渉法による大変形の連続計測
- 2種類の広帯域波長光源組み込み垂直走査型干渉計を用いる高精度形状計測(その2)
- スペックル干渉計での連続大変形測定
- 半導体レーザの狭域波長走査を用いたスペックル干渉計での粗面の形状計測
- 2種類の広帯域波長光源を組み込んだ垂直走査型干渉計を用いる高精度形状計測
- 連続取込みスペックル干渉画像における初期位相測定法
- 二波長スペックル干渉法による固体材料の変形測定
- 垂直走査型白色干渉法における走査速度の高速化
- LDの狭域波長走査を用いた粗面の形状計測
- 2個の高輝度LEDと垂直走査型干渉計を用いる高速nm精度形状計測
- シェアログラフィーを利用した形状計測
- 1007 ラインカメラを用いたnm精度での縦方向変位とμm精度での横方向変位の同時測定(OS10-2 変位・形状の計測,オーガナイズドセッション:10 部材の健全性を支える計測・評価技術)
- 112 レーザとカラーカメラを用いた2次元変形測定法(構造部材や加工プロセスの信頼性を支える計測・評価技術)
- 111 ラインカメラと共焦点原理を用いた三次元形状計測法(構造部材や加工プロセスの信頼性を支える計測・評価技術)