安達 正明 | 金沢大学工学部
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概要
関連著者
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安達 正明
金沢大学理工学域
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安達 正明
金沢大学工学部
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稲部 勝幸
金沢大学
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稲部 勝幸
金沢大学工学部
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安達 正明
金沢大学大学院
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松本 哲也
兵庫県立工業技術センター
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安達 正明
金沢大 大学院
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北川 洋一
兵庫県立工業技術センター ものづくり開発部
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松本 哲也
兵庫県工業技術センター
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北川 洋一
兵庫県立工業技術センター
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北川 洋一
兵庫県工業技術センター
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中里 一茂
兵庫県工業技術センター
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三木 秀司
(株)神戸製鋼所
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中井 康秀
(株)レオ技研
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川口 格
大阪府立大学工学部
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高山 稔
金沢大学工学部
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舛岡 淳司
富士通機電(株)
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中里 一茂
兵庫県立工業技術センター
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鈴木 紀生
(株)神戸製鋼所浅田研究所
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鈴木 紀生
(株)神戸製鋼所
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北川 洋一
兵工技センター
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丹原 嘉彦
金沢大学大学院
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大杉 博人
大同工業(株)
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平林 崇
(株)デンソー
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舛岡 淳司
金沢大学工学部
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平林 崇
金沢大学工学部
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川崎 修慈
金沢大学工学部
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大杉 博人
金沢大学工学部
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大谷 忠
東京農工大学農学部
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喜多山 繁
東京農工大学農学部
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八高 隆雄
横浜国立大学 大学院工学研究院
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八高 隆雄
横浜国立大学
著作論文
- 2波長スペックル干渉法を用いた変形測定
- スペックル干渉計でのモジュレーション変動下の連続大変形計測
- 2種類の広帯域波長光源組み込み垂直走査型干渉計を用いる高精度形状計測(その2)
- スペックル干渉計での連続大変形測定
- 半導体レーザの狭域波長走査を用いたスペックル干渉計での粗面の形状計測
- 2種類の広帯域波長光源を組み込んだ垂直走査型干渉計を用いる高精度形状計測
- 連続取込みスペックル干渉画像における初期位相測定法
- 変形後のスペックル画像を1枚だけ用いる定量的変形計測-高精度化への改良-
- 半導体レーザの波長走査を用いた粗面物体の3次元形状計測
- 動的に変形している粗面のESPI法による変形量の測定
- 段差センシングのための新しい光切断型形状測定システム
- ESPIでの4画面位相シフト法におけるランダムなシフト誤差補正法
- ラジアルシェア干渉計を用いた粗面物体の3次元形状計測法
- 3波長での位相データを基にした段差を持つ粗面の形状計測
- ESPI位相シフト法を用いた連続変形物体の変形スピード計測
- ピエゾ素子のシフト誤差を補正できる4画面位相シフト法
- 上下振動の影響を受けない高精度粗さ測定法(第2報) : 完全な平面を必要としない断面彩状の測定法
- オプティカルスキッド法における反射率の変動が与える測定誤差の補正法
- 上下振動の影響を受けない高精度粗さ測定法(第1報) : オプティカルスキッド法の提案