加藤 武彦 | NEC関西エレクトロニクス研究所
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概要
関連著者
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加藤 武彦
Nec化合物デバイス事業部
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尾藤 康則
NEC関西エレクトロニクス研究所
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加藤 武彦
NEC関西エレクトロニクス研究所
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岩田 直高
NEC関西エレクトロニクス研究所
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尾藤 康則
Necエレクトロニクス株式会社化合物デバイス事業部
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富田 正俊
NEC関西エレクトロニクス研究所
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西村 武史
NEC関西エレクトロニクス研究所
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Hau Gary
NEC関西エレクトロニクス研究所
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Gary HAU
NEC関西エレクトロニクス研究所
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Gary Hau
NEC 関西エレクトロニクス研究所
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西村 武史
Nec化合物デバイス事業部
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Hau Gary
Nec化合物デバイス事業部
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岩田 直高
日本電気(株)関西エレクトロニクス研究所
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岩田 直高
NEC化合物デバイス事業部
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岩田 直高
NECエレクトロニクス株式会社化合物デバイス事業部
著作論文
- Al_Ga_Asバリア層を配したエンハンスメント型ヘテロ接合FETのW-CDMA出力特性
- 3.5V以下で動作電圧制御したW-CDMA端末用高出力ヘテロ接合FETの高効率特性
- コンタクト抵抗を低減したヘテロ接合FETの低電圧PDC出力特性評価
- コンタクト抵抗を低減したヘテロ接合FETの低電力PDC出力特性評価
- デジタル携帯電話用1.1V動作高出力HJFET
- 3.5V以下で動作電圧制御したW-CDMA端末用高出力ヘテロ接合FETの高効率特性
- 3.5V以下で動作電圧制御したW-CDMA端末用高出力ヘテロ接合FETの高効率特性
- コンタクト抵抗を低減したヘテロ接合FETの低電力PDC出力特性評価