山本 豊二 | NECシステムデバイス研究所

スポンサーリンク

概要

• 同名の論文著者
• NECシステムデバイス研究所の論文著者

関連著者

• 山本 豊二

  MIRAI-ASET

• 山本 豊二

  NEC(株)システムデバイス研究所

• 山本 豊二

  NECシリコンシステム研究所

• 坂本 圭司

  Necエレクトロニクス、先端デバイス開発事業部

• 最上 徹

  Nec シリコンシステム研究所

• 中原 寧

  NECエレクトロニクス先端デバイス開発事業部

• 今井 清隆

  NECエレクトロニクス先端デバイス開発事業部

• 東郷 光洋

  NECエレクトロニクス株式会社

• 小山 晋

  NECエレクトロニクス、先端デバイス開発事業部

• 松田 友子

  NECエレクトロニクス、先端デバイス開発事業部

• 藤原 秀二

  NECエレクトロニクス、先端デバイス開発事業部

• 永瀬 正俊

  NECエレクトロニクス、先端デバイス開発事業部

• 山縣 保司

  NECエレクトロニクス、先端デバイス開発事業部

• 長谷川 英司

  Nec Electronics Corporation

• 長谷川 英司

  Necエレクトロニクス(株)

• 最上 徹

  NECシステムデバイス・基礎研究本部 シリコンシステム研究所

• 東郷 光洋

  NECシステムデバイス研究所

• 深井 利憲

  NECシステムデバイス研究所

• 真壁 昌里子

  NECエレクトロニクスプロセス技術事業部

• 後藤 啓郎

  NECエレクトロニクス先端デバイス開発事業部

• 山本 豊二

  NECシステムデバイス研究所

• 後藤 啓郎

  NEC Electronics Corporation

• 最上 徹

  Necシステムデバイス研究所

• 深井 利憲

  Necエレクトロニクス

• 山縣 保司

  Necエレクトロニクス株式会社先端デバイス開発部

• 中原 寧

  Necエレクトロニクス

もっと見る 閉じる

著作論文

• 基板電圧印加時の信頼性を考慮した65nmCMOSFETのパワーマネージメント(VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低電力))
• 基板電圧印加時の信頼性を考慮した65nmCMOSFETのパワーマネージメント(VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低電力))

スポンサーリンク