竹内 潔 | NEC システムデバイス・基礎研究本部 シリコンシステム研究所
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概要
関連著者
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竹内 潔
NEC システムデバイス・基礎研究本部 シリコンシステム研究所
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Koh Risho
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Koh Risho
Microelectronics Res. Labs. Nec Corp.
著作論文
- 素子微細化が真性半導体ボディSOI-MOSFETのI_向上効果に与える影響
- SoC性能評価関数を用いた最適マルチ・トランジスタ・パラメータ設計の決定手法
- 不均一垂直不純物分布によるMOSFETのしきい値ばらつき制御
- 不均一垂直不純物分布によるMOSFETのしきい値ばらつき制御