第7回小田原賞受賞 欠陥点サンプリング技術を利用した外観検査手法 (特集2 優れた画像処理研究に触れる)

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概要

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• 産業開発機構の論文

著者

• 細谷 直樹

  (株)日立製作所生産技術研究所

• 渋谷 久恵

  日立製作所生産技術研究所

• 高木 裕治

  (株)日立製作所生産技術研究所

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