細谷 直樹 | (株)日立製作所生産技術研究所

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概要

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関連著者

• 細谷 直樹

  (株)日立製作所生産技術研究所

• 渋谷 久恵

  日立製作所生産技術研究所

• 高木 裕治

  (株)日立製作所生産技術研究所

• 渋谷 久恵

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  株式会社 日立製作所 生産技術研究所

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• 細谷 直樹

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• 渋谷 久恵

  (株)日立製作所 生産技術研究所

• 渋谷 久恵

  (株)日立製作所 横浜研究所

著作論文

• 欠陥点サンプリング技術を利用した外観検査手法
• 欠陥分布パターン照合に基づく問題工程特定技術(DIA推薦論文)
• 第7回小田原賞受賞 欠陥点サンプリング技術を利用した外観検査手法 (特集2 優れた画像処理研究に触れる)

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