渋谷 久恵 | (株)日立製作所 生産技術研究所
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概要
関連著者
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渋谷 久恵
(株)日立製作所 生産技術研究所
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東京農工大学工学部情報工学科
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大阪電気通信大学 情報通信工学部
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北海道大学
著作論文
- D-12-6 未知欠陥の分類に有効な特徴選択手法の基礎検討(D-12.パターン認識・メディア理解A(パターンメディアの認識・理解・生成),一般セッション)
- D-12-7 未知欠陥の分類における閾値の決定に関する基礎検討(D-12.パターン認識・メディア理解A(パターンメディアの認識・理解・生成),一般セッション)
- 局所一貫性に基づく点群照合法(サマーセミナー(若葉研究者の集い)「最先端ビジョン技術が拓く画像応用の新境地」)
- 欠陥分布パターン照合に基づく問題工程特定技術(DIA推薦論文)
- 決定木を利用した欠陥分類ルールの自動生成技術
- 3E-2 センサモデルと投票に基づく異常検知(人工知能一般(1),一般セッション,人工知能と認知科学,情報処理学会創立50周年記念)
- H-022 センサモデルと投票に基づく発電機の異常検知の検討(画像認識・メディア理解,一般論文)
- 生産システム分野における多次元センシングの応用
- 尤度ヒストグラムに基づく異常検出(一般セッション,文字・文書の認識と理解)
- 多センサの多次元表現と部分空間識別器に基づく異常検知(一般セッション,文字・文書の認識と理解)
- 尤度プロファイル特徴に基づく異常分類(テーマセッション,時系列パターン認識)
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