発変電所装置搭載パワー半導体素子の寿命推定と搭載素子の検査手法・検査装置の開発評価
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概要
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In power companies, power semiconductor devices such as diodes and thyristors have been used in the AC/DC power converter unit of substation rectifiers and power station exciters, and half of them have been used over 15 years. Recently, we found that blocking voltage degradation occurred frequently in those devices. This paper presents the estimation of the failure-age of power semiconductor devices, and also presents a novel monitoring method using a leakage current vector for the first time. The new monitoring method can detect blocking voltage degradation correctly under conditions of low voltage, such as half the rated voltage.
- 2003-04-01
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