7aSK-5 SiGe/Siヘテロ界面の光照射STM測定(格子欠陥・ナノ構造,領域10)

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概要

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• 一般社団法人日本物理学会の論文
• 2002-08-13

著者

• 目良 裕

  東大工

• 前田 康二

  東大工

• 飛田 聡

  東大工

• 飛田 聡

  東京大学大学院工学系研究科物理工学専攻

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