23aTA-7 単層カーボンナノチューブの電子刺激誘起欠陥 : 水素熱脱離測定による高感度検出(23aTA 領域7,領域10合同 ナノチューブ・グラファイトにおける欠陥,領域7(分子性固体・有機導体))
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2008-08-25
著者
-
福谷 克之
東大生研
-
佐藤 義倫
東北大学大学院環境科学研究科
-
目良 裕
東大工
-
有馬 智史
東大工
-
佐藤 義倫
東北大院環境
-
田路 和幸
東北大院環境
-
小倉 正平
東大生研
-
李 相吉
サムスン電子
-
有馬 智史
東大院工
-
李 相吉
東大生研
-
目良 裕
東大院工
-
藤原 貴之
東大院工
-
前田 康二
東大院工
-
小倉 正平
東京大学生産技術研究所
-
田路 和幸
東北大
-
田路 和幸
東北大学大学院 環境科学研究科
-
田路 和幸
東北大学
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