21pYM-7 電子線誘起拡散におけるTEM画像ゆらぎの解析(格子欠陥・ナノ構造(半導体・水素),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2005-08-19

著者

• 目良 裕

  東大工

• 前田 康二

  東大工

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