27p-N-1 走査トンネル顕微鏡による半導体中のバルク欠陥の観察

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 1995-09-12

著者

• 目良 裕

  東大工

• 前田 康二

  東大工

• 藤本 潔

  東大工

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