25pWE-6 フォトクウェンチ効果を示さないEL2センター・STMによる物理的起源の解明(25pWE 領域,領域10合同アモルファス,不純物・格子欠陥,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在分野))

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概要

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• 一般社団法人日本物理学会の論文
• 2002-03-01

著者

• 目良 裕

  東大工

• 前田 康二

  東大工

• 飛田 聡

  東大工

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