AS-2-7 FT-IRを用いたSAWデバイス周波数温度係数評価の検討(AS-2.弾性波デバイスの現状と将来,シンポジウムセッション)
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概要
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- 2011-02-28
著者
-
橋本 研也
千葉大学大学院工学研究科電気電子工学コース
-
上田 政則
富士通株式会社
-
上田 政則
富士通研
-
佐藤 良夫
富士通株式会社
-
上田 政則
株式会社富士通研究所佐藤フェロー室
-
佐藤 良夫
太陽誘電株式会社
-
佐藤 良夫
(株)富士通研究所
-
橋本 研也
千葉大学大学院
-
上田 政則
太陽誘電株式会社
-
松田 聡
太陽誘電株式会社
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松田 隆志
太陽誘電(株)
-
三浦 道雄
太陽誘電株式会社
-
松田 隆志
太陽誘電株式会社
-
Hashimoto Ken-ya
Graduate School Of Engineering Chiba University
-
佐藤 良夫
(株)富士通研究所 明石研究所
-
橋本 研也
千葉大学工学部
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