C-12-40 容量DACの寄生容量がSAR ADCの精度に与える影響の検討(C-12.集積回路,一般セッション)
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概要
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- 2011-02-28
著者
-
白 戴和
東京工業大学電子物理工学専攻
-
宮原 正也
東京工業大学電子物理工学専攻
-
松澤 昭
東京工業大学電子物理工学専攻
-
松澤 昭
松下電器産業(株)
-
松澤 昭
東京工業大学大学院理工学研究科
-
松澤 昭
松下電器産業(株)半導体社半導体先行開発センター
-
松澤 昭
松下電器産業株式会社半導体開発本部
-
松沢 昭
松下電器
-
松澤 昭
東京工業大学
-
宮原 正也
東京工業大学大学院理工学研究科
-
白 戴和
東京工業大学大学院理工学研究科電子物理工学専攻
-
松澤 昭
東京工業大学大学院理工学研究科電子物理工学専攻
-
李 承鍾
東京工業大学大学院理工学研究科電子物理工学専攻
-
宮原 正也
東京工業大学 大学院理工学研究科 電子物理工学専攻
-
宮原 正也
東京工業大学
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