白 戴和 | 東京工業大学電子物理工学専攻

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概要

• 同名の論文著者
• 東京工業大学電子物理工学専攻の論文著者

関連著者

• 白 戴和

  東京工業大学電子物理工学専攻

• 宮原 正也

  東京工業大学電子物理工学専攻

• 松澤 昭

  東京工業大学電子物理工学専攻

• 松澤 昭

  東京工業大学

• 白 戴和

  東京工業大学大学院理工学研究科電子物理工学専攻

• 宮原 正也

  東京工業大学 大学院理工学研究科 電子物理工学専攻

• 宮原 正也

  東京工業大学

• 宮原 正也

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 浅田 友輔

  東京工業大学電子物理工学専攻

• 松澤 昭

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 松沢 昭

  松下電器

• 松澤 昭

  東京工業大学大学院理工学研究科電子物理工学専攻

• 岡田 健一

  東京工業大学大学院理工学研究科電子物理工学専攻

• 松澤 昭

  松下電器産業(株)

• 松澤 昭

  松下電器産業(株)半導体社半導体先行開発センター

• 松澤 昭

  松下電器産業株式会社半導体開発本部

• 岡田 健一

  東京工業大学

• 李 承鍾

  東京工業大学大学院理工学研究科電子物理工学専攻

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著作論文

• 補間技術とバックグランド補償技術を用いた8-bit 600-MSps並列型ADCに関する研究(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路)
• C-12-63 並列型ADC用の参照電圧回路のRC遅延に関する検討(C-12.集積回路,一般セッション)
• 補間技術とバックグランド補償技術を用いた8-bit 600-MSps並列型ADCに関する研究(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路)
• C-12-40 容量DACの寄生容量がSAR ADCの精度に与える影響の検討(C-12.集積回路,一般セッション)

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