26aWZ-8 Car-Parrinello分子動力学法によるシリコン結晶内欠陥の拡散現象の再評価(26aWZ 格子欠陥・ナノ構造(半導体),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))

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概要

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• 2010-08-18

著者

• 押山 淳

  東大院工

• 重田 育照

  兵庫県立大院生命

• 小泉 健一

  東大院工

• Boero Mauro

  IPCMS

• 重田 育照

  兵庫県大院生命

• 重田 育照

  阪大基礎工

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