Si細線導波路を用いた三種類の結合器における性能の分析と比較(量子光学,非線形光学,超高速現象,レーザ基礎,及び一般)
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概要
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Si細線導波路で構成される三種類の結合器における性能の分析と比較を行った.本研究で提案するクロスギャップ結合器,方向性結合器,多モード干渉結合器について波長依存性,過剰損失を評価した.評価の手段としては二次元の有限差分時間領域法(2-D FDTD)を用いた。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2010-05-21
著者
-
津田 裕之
慶應義塾大学
-
金高 健二
産業技術総合研究所光技術研究部門
-
伊熊 雄一郎
慶應義塾大学大学院理工学研究科総合デザイン工学専攻
-
津田 裕之
慶應義塾大学大学院
-
田中 大輝
慶應義塾大学大学院理工学研究科
-
金高 健二
産業技術総合研究所
-
伊熊 雄一郎
慶應義塾大学大学院理工学研究科
-
伊熊 雄一郎
慶應義塾大学大学院
-
田中 大輝
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